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• 尼得科精密檢測科技推出半導(dǎo)體測溫探針卡及支持高電壓的加壓結(jié)構(gòu)探針卡
  

  尼得科精密檢測科技株式會社（以下簡稱“本公司”）子公司尼得科SV Probe正式發(fā)售以下產(chǎn)品：①半導(dǎo)體設(shè)備溫度測量探針卡“TC（熱電偶）探針卡”、②可支持高電壓的探針卡“加壓結(jié)構(gòu)探針卡”。 近年來，電動汽車（EV）和工業(yè)設(shè)備等領(lǐng)域使用的功率半導(dǎo)體需求不斷增加，對高電壓、大電流功率半導(dǎo)體的檢測、特別是在高溫環(huán)境下進行更精確、高質(zhì)量檢測的需求日益增長。 ① “TC探針卡” 半導(dǎo)體設(shè)備溫度測量探針卡“T

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  12/16 08:11

  尼得科 工業(yè)設(shè)備

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