加入星計(jì)劃，您可以享受以下權(quán)益：

  • 創(chuàng)作內(nèi)容快速變現(xiàn)
  • 行業(yè)影響力擴(kuò)散
  • 作品版權(quán)保護(hù)
  • 300W+ 專業(yè)用戶
  • 1.5W+ 優(yōu)質(zhì)創(chuàng)作者
  • 5000+ 長(zhǎng)期合作伙伴
立即加入

AOI

加入交流群
掃碼加入
獲取工程師必備禮包
參與熱點(diǎn)資訊討論

AOI（Automated Optical Inspection縮寫）的中文全稱是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)，是基于光學(xué)原理來對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。AOI是新興起的一種新型測(cè)試技術(shù)，但發(fā)展迅速，很多廠家都推出了AOI測(cè)試設(shè)備。當(dāng)自動(dòng)檢測(cè)時(shí)，機(jī)器通過攝像頭自動(dòng)掃描PCB，采集圖像，測(cè)試的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較，經(jīng)過圖像處理，檢查出PCB上缺陷，并通過顯示器或自動(dòng)標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)示出來，供維修人員修整。運(yùn)用高速高精度視覺處理技術(shù)自動(dòng)檢測(cè)PCB板上各種不同貼裝錯(cuò)誤及焊接缺陷。PCB板的范圍可從細(xì)間距高密度板到低密度大尺寸板，并可提供在線檢測(cè)方案，以提高生產(chǎn)效率，及焊接質(zhì)量。通過使用AOI作為減少缺陷的工具，在裝配工藝過程的早期查找和消除錯(cuò)誤，以實(shí)現(xiàn)良好的過程控制。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段，AOI將減少修理成本將避免報(bào)廢不可修理的電路板。

AOI（Automated Optical Inspection縮寫）的中文全稱是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)，是基于光學(xué)原理來對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。AOI是新興起的一種新型測(cè)試技術(shù)，但發(fā)展迅速，很多廠家都推出了AOI測(cè)試設(shè)備。當(dāng)自動(dòng)檢測(cè)時(shí)，機(jī)器通過攝像頭自動(dòng)掃描PCB，采集圖像，測(cè)試的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較，經(jīng)過圖像處理，檢查出PCB上缺陷，并通過顯示器或自動(dòng)標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)示出來，供維修人員修整。運(yùn)用高速高精度視覺處理技術(shù)自動(dòng)檢測(cè)PCB板上各種不同貼裝錯(cuò)誤及焊接缺陷。PCB板的范圍可從細(xì)間距高密度板到低密度大尺寸板，并可提供在線檢測(cè)方案，以提高生產(chǎn)效率，及焊接質(zhì)量。通過使用AOI作為減少缺陷的工具，在裝配工藝過程的早期查找和消除錯(cuò)誤，以實(shí)現(xiàn)良好的過程控制。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段，AOI將減少修理成本將避免報(bào)廢不可修理的電路板。收起

查看更多
  • 半導(dǎo)體制造與AOI檢測(cè)的一些問題解答
    格芯是專門做AOI設(shè)備的企業(yè)，Tom
    半導(dǎo)體制造與AOI檢測(cè)的一些問題解答
  • Nexperia優(yōu)化齊納二極管產(chǎn)品組合，以解決過沖和噪聲現(xiàn)象
    Nexperia宣布對(duì)其豐富的齊納二極管產(chǎn)品組合進(jìn)行兩項(xiàng)優(yōu)化，以消除不良的過沖和噪聲行為，這在齊納技術(shù)領(lǐng)域是重大進(jìn)步。首先，新型50 μA齊納系列二極管推出B-selection (Vz +/-2%)，Vz范圍從1.8 V到51 V，提供標(biāo)準(zhǔn)版和汽車版。這使得它們非常適合汽車應(yīng)用，例如電動(dòng)汽車(EV)的車載充電器，以及廣泛的工業(yè)和消費(fèi)應(yīng)用，例如通用計(jì)算單元、電池管理系統(tǒng)、設(shè)備充電器和智能手表。 N
    Nexperia優(yōu)化齊納二極管產(chǎn)品組合，以解決過沖和噪聲現(xiàn)象
  • 為什么晶圓wafer AOI很重要？
    晶圓制造是半導(dǎo)體生產(chǎn)中至關(guān)重要的環(huán)節(jié)，AOI檢測(cè)技術(shù)在晶圓制造過程中不可或缺。wafer AOI技術(shù)通過高效、準(zhǔn)確的缺陷檢測(cè)和數(shù)據(jù)分析，幫助提高生產(chǎn)效率、保證產(chǎn)品質(zhì)量，并為持續(xù)改進(jìn)制造工藝提供數(shù)據(jù)支持。為什么需要進(jìn)行AOI檢測(cè)的詳細(xì)步驟：
  • aoi檢測(cè)
    自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)（Automated Optical Inspection，簡(jiǎn)稱AOI）是一種通過計(jì)算機(jī)視覺技術(shù)實(shí)現(xiàn)的表面缺陷檢測(cè)方法，廣泛應(yīng)用于電子制造、印刷行業(yè)等領(lǐng)域。AOI檢測(cè)系統(tǒng)能夠高效、準(zhǔn)確地檢測(cè)產(chǎn)品表面的缺陷、不良組件或裝配錯(cuò)誤，幫助生產(chǎn)線實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化、提高生產(chǎn)質(zhì)量和效率。
    1499
    2024/09/26
    AOI

正在努力加載...