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掃碼加入測(cè)試機(jī)是用于檢測(cè)、測(cè)試和校準(zhǔn)的設(shè)備。測(cè)試機(jī)的應(yīng)用范圍很廣，例如半導(dǎo)體測(cè)試、電阻測(cè)試、探傷測(cè)試、壓力測(cè)試、振動(dòng)測(cè)試、溫度測(cè)試、性能測(cè)試、安全測(cè)試、功能測(cè)試、環(huán)境測(cè)試等。根據(jù)不同的測(cè)試項(xiàng)目，測(cè)試機(jī)可分為無損探傷檢測(cè)設(shè)備、力學(xué)性能試驗(yàn)機(jī)、光學(xué)性能儀器、電學(xué)性能儀器等。
測(cè)試機(jī)是用于檢測(cè)、測(cè)試和校準(zhǔn)的設(shè)備。測(cè)試機(jī)的應(yīng)用范圍很廣，例如半導(dǎo)體測(cè)試、電阻測(cè)試、探傷測(cè)試、壓力測(cè)試、振動(dòng)測(cè)試、溫度測(cè)試、性能測(cè)試、安全測(cè)試、功能測(cè)試、環(huán)境測(cè)試等。根據(jù)不同的測(cè)試項(xiàng)目，測(cè)試機(jī)可分為無損探傷檢測(cè)設(shè)備、力學(xué)性能試驗(yàn)機(jī)、光學(xué)性能儀器、電學(xué)性能儀器等。收起
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