意法半導(dǎo)體開發(fā)了一套與 8 位和低端 16 位微控制器應(yīng)用相關(guān)的測試?yán)?,用于評估微控制器核心的計算性能和中斷處理性能。這些例程已在 ST7 和 ST9 微控制器單元(MCU)上實現(xiàn),以及市場上可用的幾種 MCU 上。這些例程是用匯編語言編寫的,以優(yōu)化它們的實現(xiàn),并專注于核心性能,而不依賴于編譯器代碼轉(zhuǎn)換。對每個測試感興趣的兩個參數(shù)是執(zhí)行時間和代碼大小。盡可能測量了定時,在沒有其他替代方案時進(jìn)行了理論計算。在大多數(shù)情況下,程序確實運(yùn)行并測量了執(zhí)行時間,因此匯編源代碼不應(yīng)包含實現(xiàn)錯誤,結(jié)果可以被認(rèn)為是正確和可靠的。 這項研究的結(jié)果指出,ST9+ 在 8 位和低端 16 位應(yīng)用中能夠與 16 位 MCU 競爭,并確認(rèn)其作為高端 8/16 位 MCU 的地位。也證實 ST7 作為出色的 8 位 MCU。