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編輯器(editor)是2012年公布的地理信息系統(tǒng)名詞。

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  • 用4200A和矩陣開(kāi)關(guān)搭建自動(dòng)智能的可靠性評(píng)估平臺(tái)
    用4200A和矩陣開(kāi)關(guān)搭建自動(dòng)智能的可靠性評(píng)估平臺(tái)
    在現(xiàn)代ULSI電路中溝道熱載流子(CHC)誘導(dǎo)的退化是一個(gè)重要的與可靠性相關(guān)的問(wèn)題。載流子在通過(guò)MOSFET通道的大電場(chǎng)加速時(shí)獲得動(dòng)能。當(dāng)大多數(shù)載流子到達(dá)漏極時(shí),熱載流子(動(dòng)能非常高的載流子)由于原子能級(jí)碰撞的沖擊電離,可以在漏極附近產(chǎn)生電子—空穴對(duì)。其他的可以注入柵極通道界面,打破Si-H鍵,增加界面態(tài)密度。CHC的影響是器件參數(shù)的時(shí)間相關(guān)的退化,如VT、IDLIN和IDSAT。這種通道熱載流子
  • 【測(cè)試案例分享】如何評(píng)估熱載流子引導(dǎo)的MOSFET衰退
    【測(cè)試案例分享】如何評(píng)估熱載流子引導(dǎo)的MOSFET衰退
    隨著MOSFET柵極長(zhǎng)度的減小,熱載流子誘發(fā)的退化已成為重要的可靠性問(wèn)題之一。在熱載流子效應(yīng)中,載流子被通道電場(chǎng)加速并被困在氧化物中。這些被捕獲的電荷會(huì)引起測(cè)量器件參數(shù)的時(shí)間相關(guān)位移,例如閾值電壓?(VTH)、跨導(dǎo) (GM)以及線(xiàn)性 (IDLIN) 和飽和 (IDSAT) 漏極電流。隨著時(shí)間的推移,可能會(huì)發(fā)生實(shí)質(zhì)性的器件參數(shù)退化,從而導(dǎo)致器件失效。用于測(cè)量HCI的儀器必須提供以下三個(gè)關(guān)鍵功能: 自
  • Vim編輯器之Vim常用操作命令
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    IC學(xué)霸筆記系列內(nèi)容將持續(xù)更新。 首先來(lái)了解一下Linux根目錄下存在的文件以及它們的功能作用:
  • 你真的會(huì)notepad++的搜索功能嗎?(正則表達(dá)式)
    你真的會(huì)notepad++的搜索功能嗎?(正則表達(dá)式)
    我們知道notepad++是一個(gè)非常強(qiáng)大的編輯器,相信同學(xué)們一定是裝機(jī)必備的一個(gè)工具。它對(duì)文本的編輯和查看有著非常友好的支持能力,對(duì)較大文件的處理也非常的不錯(cuò)。例如,我們系統(tǒng)運(yùn)行的過(guò)程中生成的文本格式的日志,它通常是一個(gè)比較大的文件,一般我們可以使用notepad++快速打開(kāi)日志文件。不過(guò),對(duì)于日志文件來(lái)說(shuō),里面會(huì)記錄各種來(lái)個(gè)不同地方的信息,比如,各種服務(wù),各種進(jìn)程,各種線(xiàn)程,各種模塊等等。在我們分析日志文件時(shí),又要快速定位到問(wèn)題或者某個(gè)相關(guān)模塊的問(wèn)題,就需要用到它的搜索功能,我們需要匹配特定的關(guān)鍵字進(jìn)行搜索有用信息,查看相關(guān)的日志內(nèi)容。