介紹
本文檔是關于如何在脫機和聯(lián)機模式下在SPC584Cx/SPC58ECx設備中配置STCU運行自檢的指南。自檢由邏輯和內(nèi)存BIST(L/MBIST)組成。它用于檢測潛在故障,并且對應用程序是透明的。讀者應該清楚地了解自檢的用法。有關更多詳細信息,請參閱參考文件。
概述
SPC584Cx/SPC58ECx設備僅實現(xiàn)MBIST。它可以檢測設備易失性存儲器中的潛在故障。SPC584Cx/SPC58ECx包括57個內(nèi)存片段。讀者可以在參考手冊的第7章(設備配置)中看到完整的列表。