本應(yīng)用說明描述了如何在SPC58xGx設(shè)備上執(zhí)行邏輯和內(nèi)存BIST(L/MBIST)。
這些自檢通常在啟動階段進(jìn)行,以檢測潛在的故障,并且對應(yīng)用程序是透明的。
用戶可以在開機(jī)(離線模式)和關(guān)機(jī)(在線模式)期間執(zhí)行自檢。
這保證了高度的靈活性,例如達(dá)到更快的啟動時間,并保持對潛在故障的高診斷覆蓋率。
有一個在離線和在線模式下工作的自檢示例。
本文檔主要介紹SPC58xGx器件,但大多數(shù)概念也適用于其他ST 40 nm器件。