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74系列數(shù)字集成芯片測試儀(程序、參考電路等)

2016/11/22
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一、任務(wù)

設(shè)計(jì)制作一個(gè)集成電路芯片測試儀,能對常用的74系列邏輯芯片進(jìn)行邏輯功能測試,以確定芯片的好壞和型號。

二、要求

1.基本要求

(1)通過鍵盤輸入型號,可以對74系列的00/02/04/08/10/11/20/21/27/30十種組合邏輯芯片進(jìn)行邏輯功能測試,確定其功能正確性;

(2)通過鍵盤輸入管腿特性,可以確定上述74系列的組合邏輯芯片的型號;

(3)顯示上述芯片的邏輯符號和邏輯表達(dá)式。

2.發(fā)揮部分

將上述三項(xiàng)基本要求擴(kuò)展到74系列時(shí)序電路:74/109/160/245等。

(1)通過鍵盤輸入型號,可以對74系列的74/109/160/245等芯片進(jìn)行邏輯功能測試,確定其功能正確性;

(2)通過鍵盤輸入管腿特性,可以確定上述74系列時(shí)序邏輯芯片的型號;

(3)顯示上述芯片的邏輯符號和狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖;

(4)其它特色與創(chuàng)新。

74系列的數(shù)字集成芯片測試儀程序源碼截圖:

代碼說明:可以測試大多數(shù)74系列芯片,12864顯示,可以測試芯片通道好壞情況,在自己的開發(fā)板上調(diào)試通過,有注釋

  • 參考硬件設(shè)計(jì).zip
    描述:包括原理圖、PCB等
  • 多功能數(shù)字集成電路芯片測試儀.zip
    描述:程序源碼,見截圖展示

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