一、任務(wù)
設(shè)計(jì)制作一個(gè)集成電路芯片測試儀,能對常用的74系列邏輯芯片進(jìn)行邏輯功能測試,以確定芯片的好壞和型號。
二、要求
1.基本要求
(1)通過鍵盤輸入型號,可以對74系列的00/02/04/08/10/11/20/21/27/30十種組合邏輯芯片進(jìn)行邏輯功能測試,確定其功能正確性;
(2)通過鍵盤輸入管腿特性,可以確定上述74系列的組合邏輯芯片的型號;
(3)顯示上述芯片的邏輯符號和邏輯表達(dá)式。
2.發(fā)揮部分
將上述三項(xiàng)基本要求擴(kuò)展到74系列時(shí)序電路:74/109/160/245等。
(1)通過鍵盤輸入型號,可以對74系列的74/109/160/245等芯片進(jìn)行邏輯功能測試,確定其功能正確性;
(2)通過鍵盤輸入管腿特性,可以確定上述74系列時(shí)序邏輯芯片的型號;
(3)顯示上述芯片的邏輯符號和狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖;
(4)其它特色與創(chuàng)新。
74系列的數(shù)字集成芯片測試儀程序源碼截圖:
代碼說明:可以測試大多數(shù)74系列芯片,12864顯示,可以測試芯片通道好壞情況,在自己的開發(fā)板上調(diào)試通過,有注釋