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ALD,ALE與傳統(tǒng)技術(shù)相比的優(yōu)勢?

12/20 16:07
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知識星球(星球名:芯片制造與封測技術(shù)社區(qū),星球號:63559049)里的學(xué)員問:ALD(原子層沉積),ALE(原子層刻蝕)與傳統(tǒng)的沉積,刻蝕技術(shù)相比,有什么優(yōu)勢?

先說傳統(tǒng)鍍膜與ALD效果的對比,傳統(tǒng)薄膜沉積方法如 PECVD 或 PVD等,在高深寬比結(jié)構(gòu)中,由于氣體進(jìn)出受到了物理限制,側(cè)壁和底部區(qū)域的沉積速率不同。

薄膜覆蓋在孔洞底部部分會比較薄,而孔口則沉積的較厚。當(dāng)深寬比不斷增大時,孔口由于太厚會出現(xiàn)封口現(xiàn)象,而孔內(nèi)未完全填充而出現(xiàn)空洞。

ALD 是一種逐層沉積的“自限性”反應(yīng),每次僅沉積一個原子層,在復(fù)雜結(jié)構(gòu)的側(cè)壁、底部和頂部實(shí)現(xiàn)均勻覆蓋,幾乎沒有空隙或不均勻性。適合于高深寬比的 3D 結(jié)構(gòu)。

再說傳統(tǒng)刻蝕與ALE(原子層刻蝕)的效果對比,傳統(tǒng)刻蝕隨著深寬比的不斷提高,會出現(xiàn)側(cè)壁彎曲不陡直,甚至刻不下去的情況。但是ALE在極高深寬比中仍可實(shí)現(xiàn)均勻刻蝕,避免底部或側(cè)壁過刻。

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